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Webster B型钳式硬度计

Webster B型钳式硬度计(即韦氏硬度计),由美国生产,用于测量各种铝合金材料硬度,可测量铝板、铝管和铝型材的硬度。 ...

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日本理音RION公司VM-63A测振仪

RION VM-63A便携式测振仪是日本理音公司在RION VM-63测振仪的基础上改进推出的新的测振仪。VM-63A便携式测振仪适用于机械设备的常规振动。 ...

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德国尼克斯QuaNix 4500 涂层测厚仪

QuaNix 4500只需调零、无需校准 Fe、NFE探头 一本化设计 自动开关机 ...

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美国DAKOTA公司VX超声波声速仪(VX球化率仪)

美国DAKOTA超声波测厚仪VX球化率仪是一种手持式超声波声速测定仪(球化率仪)。DAKOTA VX球化率仪当被测定的材料是铸件、合金或者塑料时,VX就会测出声波穿过它们时的速度 ...

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北京时代TH140里氏硬度计

TH140里氏硬度计是一种新型的便携式硬度测试仪器,TH140里氏硬度计主要适用于测试金属材料的硬度,具有测试高、体积小、操作容易、携带方便,测量范围宽的特点 ...

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北京时代TH160里氏硬度计

TH160里氏硬度计是一种新型的便携式硬度测试仪器,TH160里氏硬度计主要适用于测试金属材料的硬度,TH160里氏硬度计具有测试高、体积小、操作容易、携带方便,测量范围宽的特点 ...

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北京时代TR101袖珍式表面粗糙度仪

TR101粗糙度仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化仪器。TR101粗糙度仪集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计 ...

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德国尼克斯QNix 8500型涂镀层测厚仪

德国尼克斯QNix8500涂镀层测厚仪一体分体通用,带菜单操作,德国尼克斯QNix8500涂镀层测厚仪是一种智能化的测厚仪。 ...

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TT210涂层测厚仪,TT212涂层测厚仪

TT210涂层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪, TT210涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。 ...

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德国菲希尔DUALSCOPE MPO涂层测厚仪

DUALSCOPE MPO涂层测厚仪为 德国菲希尔生产涂层测厚仪,MPO涂层测厚仪集合了磁性测厚仪(P-MP0D)和涡流测厚仪(I-MP0D)两种仪器的功能, 德国菲希尔MP0涂层测厚仪是D-MP0D型仪器的改进型产品。 ...

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时代涂层测厚仪,TT260两用涂层测厚仪

TT260涂层测厚仪是一种便携式测量仪,TT260涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。 ...

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TT220涂层测厚仪,TT220磁性测厚仪

TT220涂层测厚仪是一种超小型测量仪,TT220涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。 ...

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TT230涂层测厚仪,TT230氧化膜测厚仪

TT230涂层测厚仪是一种超小型测量仪, TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。 ...

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时代TV300测振仪,TV300便携式测振仪

TV300测振仪是北京时代生产的测振仪,时代TV300测振仪可以同时显示位移、速度、加速度,便携式测振仪TV300采用压电式加速度传感器,时代TV300测振仪把振动信号转换成电信号 ...

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苏净集团Y09-3016激光尘埃粒子计数器

Y09-3016激光尘埃粒子计数器是手持式六通道0.3 , 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10μm, Y09-3016六档粒径同时显示粒子计数器 ...

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CJ-HLC300台式尘埃粒子计数器

CJ-HLC300台式尘埃粒子计数器是用于测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数和粒径分布的仪器。 ...

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北京时代TH110便携式里氏硬度计

TH110里氏硬度计已安装的机械或性组装部件。 TH110模具型腔。 重型工件。 ...

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CJ-HLC100手持式尘埃粒子计数器

CJ-HLC100手持式尘埃粒子计数器是用于测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数和粒径分布的仪器。CJ-HLC100 尘埃粒子计数器其基本原理是光学传感器的探测激光经尘埃粒子散射后被光敏元件接收并产生脉冲信 ...

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CJ-HLC200手持式尘埃粒子计数器

CJ-HLC200手持式空气尘埃粒子计数器是用于测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数量和粒径分布的计数器。 尘埃粒子计数器CJ-HLC200其基本原理是光学传感器的探测激光经尘埃粒子散射后被光敏元件接收并产生脉冲信号,... ...

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日本RION理音Vm-82振动分析仪

Vm-82振动分析仪是日本RION理音公司Vm-63A的改进型,Vm-82测振仪使用分离式的振动传感器,可对微小振动及超强振动进行测量,可测量机械设备的振动位移、速度、加速度。Vm-82振动分析仪可存储1000个测点的数据,并... ...

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